1、絕緣瓷環(huán)由于其良好的性能被廣泛應用于電子設備中,其質量的好壞將直接影響設備的安全性。目前,國內(nèi)的瓷環(huán)生產(chǎn)廠家大多仍使用人工檢測的方式來保障瓷環(huán)質量,檢測效率較低,生產(chǎn)成本較大。隨著機器視覺理論以及計算機技術的發(fā)展,使用機器代替人工進行表面缺陷檢測已經(jīng)成為一個勢不可擋的趨勢。
　　本文根據(jù)瓷環(huán)表面缺陷檢測系統(tǒng)的技術要求,設計了瓷環(huán)表面缺陷檢測系統(tǒng)的總體結構,提出了缺陷檢測關鍵環(huán)節(jié)的硬件設計方案和檢測處理流程。主要研究內(nèi)容如下:

2、>　　(1)搭建系統(tǒng)硬件平臺,從系統(tǒng)整體設計的高度劃分了主要的功能模塊。針對具體需求,對相機、鏡頭等設備選型作著重介紹。
　　(2)針對系統(tǒng)實時性與識別率要求難以同時滿足的問題,給出系統(tǒng)檢測基本流程,采用快速檢測和精確檢測相結合的分層處理流程來滿足檢測精度和速度的要求。提出基于滑動窗口的快速檢測法,實現(xiàn)對瓷環(huán)是否含有缺陷的快速判斷。只對含有缺陷的瓷環(huán)作進一步的精確檢測。實驗結果表明分層處理可在保證檢測率的基礎上,大大提高檢測效率。

3、
　　(3)針對瓷環(huán)缺陷成像復雜難以分割的問題,在分析了幾種常用分割算法的基礎上,結合瓷環(huán)成像特點,提出兩級圖像分割法來獲取缺陷區(qū)域。使用基于閾值的分割獲得瓷環(huán)區(qū)域后,采用自適應的Canny算子進行邊緣檢測,結合改進的數(shù)學形態(tài)法進行邊緣連接,從而獲得缺陷區(qū)域。
　　(4)分析幾種缺陷的特點,提取缺陷特征參數(shù)。分別設計了一種基于規(guī)則的缺陷分類方法以及基于DAG-SVM的缺陷分類器。選取200個包含各類缺陷的瓷環(huán)使用兩種分類器進