1、隨著三維測(cè)量技術(shù)實(shí)際應(yīng)用領(lǐng)域的不斷擴(kuò)展,面結(jié)構(gòu)光技術(shù)以其非接觸,高速度,高精度等特有的優(yōu)勢(shì)逐漸占據(jù)主導(dǎo)地位,具有廣闊的應(yīng)用前景。本文以開發(fā)面結(jié)構(gòu)光三維光學(xué)掃描系統(tǒng)為背景,針對(duì)目前結(jié)構(gòu)光測(cè)量技術(shù)的局限性與缺陷,深入研究了高光表面(如金屬,渦輪葉片),復(fù)雜面型(如含孔,洞孤立區(qū)域),顏色對(duì)比劇烈的表面,深暗色表面等不同表面的免噴涂光學(xué)測(cè)量技術(shù)。
　　 本文著重從以下幾個(gè)方面進(jìn)行了研究:
　　 (1)研究并實(shí)現(xiàn)了標(biāo)準(zhǔn)四步相移法

2、和多頻外差原理,并通過(guò)實(shí)驗(yàn)證明多頻外差技術(shù)比傳統(tǒng)的格雷碼加相移技術(shù)抗干擾能力強(qiáng)。
　　 (2)提出了采用多次曝光和投影儀一攝像機(jī)單目測(cè)量系統(tǒng)相結(jié)合的方法來(lái)測(cè)量高光表面。并針對(duì)多次曝光速度慢的問(wèn)題提出了圖像融合技術(shù),在保證精度的同時(shí)大大提高了效率。
　　 (3)在采用雙目與單目測(cè)量系統(tǒng)相結(jié)合的過(guò)程中,本文實(shí)現(xiàn)了投影儀標(biāo)定算法,把投影儀看成是另一個(gè)相機(jī),通過(guò)建立相機(jī)圖像與投影儀圖像之間的關(guān)系,將投影儀標(biāo)定轉(zhuǎn)換為成熟的雙目標(biāo)定