1、電子散斑干涉測(cè)量技術(shù)(Electronic speckle pattern interferometry，簡(jiǎn)稱ESPI)是一種全場(chǎng)非破壞性光學(xué)測(cè)量技術(shù)，廣泛應(yīng)用于粗糙表面的變形測(cè)量和無(wú)損檢測(cè)。在應(yīng)用該技術(shù)時(shí)，準(zhǔn)確提取相位，對(duì)物體的位移、應(yīng)變、振動(dòng)等測(cè)量具有重要意義。目前最常用的相位提取方法是條紋中心線法和相移法，后者多用于靜態(tài)測(cè)量，因其能夠得到全場(chǎng)相位信息而備受關(guān)注。
　　 在利用條紋中心線法提取相位時(shí)，由于較強(qiáng)顆粒噪聲的影響，

2、條紋的可見(jiàn)度和分辨率很差，無(wú)法正確讀取條紋信息，因此濾除條紋圖中的噪聲是正確判讀條紋信息的關(guān)鍵。本文利用偏微分方程濾波方法和變分法濾除散斑噪聲，深入研究了各種偏微分方程濾波模型和變分濾波模型對(duì)散斑干涉條紋圖的濾波效果，分析各種模型濾波性能優(yōu)劣的原因，在此基礎(chǔ)上，提出基于條紋特征的、濾波性能更佳的偏微分方程濾波方法。對(duì)濾波后的條紋圖進(jìn)一步采取二值化、骨架線提取、條紋級(jí)數(shù)標(biāo)定、插值一系列操作，得到物體的三維相位信息。在相移相位測(cè)量技術(shù)中，本

3、文對(duì)相位圖的生成方式、包裹相位圖的濾波方法以及相位展開(kāi)方法等關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了探討和研究。
　　 由于電子散斑干涉測(cè)量技術(shù)具有實(shí)時(shí)顯示、靈敏度高、全場(chǎng)測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，該技術(shù)在工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中得到廣泛的應(yīng)用。本文利用電子錯(cuò)位散斑干涉方法，結(jié)合相移技術(shù)，搭建了一個(gè)小型化的錯(cuò)位相移無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，檢測(cè)輪胎氣泡缺陷。
　　 本文的創(chuàng)新性工作概括如下：
　　 (1)在散斑條紋圖的濾波方面，改進(jìn)了PM(Perona-Malik)變分濾波

4、模型和總變分濾波模型。
　　 (2)提出了兩個(gè)新的偏微分方程濾波模型：結(jié)合條紋的密度信息和其含有乘性噪聲的特點(diǎn)，提出一種同態(tài)偏微分方程濾波方法；結(jié)合條紋的方向信息，提出一種基于條紋等值線和法向曲線的各向異性濾波模型，濾波效果良好。
　　 (3)在相位提取技術(shù)方面，將基于熱傳導(dǎo)方程的MBO(Merriman-Bence-Osher)方法引入條紋圖二值化過(guò)程，并對(duì)其進(jìn)行改進(jìn)，二值化效果明顯優(yōu)于傳統(tǒng)閾值方法；改進(jìn)了最小二乘相位