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![電流對(duì)液-固金屬潤(rùn)濕及界面反應(yīng)的影響.pdf_第1頁(yè)](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/14/18/58df4173-c0f0-4881-a330-cdc5c08bb615/58df4173-c0f0-4881-a330-cdc5c08bb6151.gif)
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文檔簡(jiǎn)介
1、液/固金屬間的潤(rùn)濕和界面反應(yīng)是材料制備和加工中的一種常見(jiàn)和重要的物理化學(xué)現(xiàn)象,會(huì)對(duì)材料的性能產(chǎn)生重要影響。本論文選擇施加電流對(duì)液/固金屬潤(rùn)濕和界面反應(yīng)的影響作為研究對(duì)象,主要開(kāi)展了以下工作:
1.研究了不同溫度條件下電流對(duì)SnBi共晶熔體/Cu/SnBi共晶熔體反應(yīng)偶的界面反應(yīng)的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:未施加電流時(shí)SnBi共晶熔體/Cu反應(yīng)偶界面反應(yīng)產(chǎn)物為扇貝狀的Cu6Sn5層和薄的Cu3Sn層。施加電流會(huì)促進(jìn)SnBi共晶熔體/C
2、u反應(yīng)偶界面反應(yīng)層的生長(zhǎng)。電流作用下SnBi共晶熔體/Cu/SnBi共晶熔體反應(yīng)偶的陽(yáng)極界面反應(yīng)層厚度明顯厚于陰極界面反應(yīng)層厚度。
2.研究了電流對(duì)SnZn共晶熔體/Cu/SnZn共晶熔體反應(yīng)偶界面反應(yīng)的影響,結(jié)果表明:該反應(yīng)偶在施加電流時(shí),SnZn共晶熔體/Cu/SnZn共晶熔體反應(yīng)偶的陽(yáng)極界面反應(yīng)層厚度要厚于陰極界面。反應(yīng)產(chǎn)物為γ-Cu5Zn8,施加電流和沒(méi)施加電流生成物沒(méi)有區(qū)別。
3.研究了220℃下直流電流對(duì)
3、SnBi共晶熔體在Cu基底上潤(rùn)濕行為的影響。結(jié)果表明在施加一定電流時(shí),能促進(jìn)SnBi共晶熔體和Cu之間的反應(yīng)速率和金屬間化合物的生長(zhǎng),而且隨著電流的增大,接觸角也明顯減小,
4.采用座滴法研究了370℃下直流電流對(duì)熔融Bi在Cu基底上潤(rùn)濕行為的影響。未施加電流時(shí)熔融Bi在Cu基底上不潤(rùn)濕,達(dá)到穩(wěn)態(tài)接觸角(約102°)的鋪展時(shí)間約為30min。隨著施加電流的增大,熔融Bi在Cu上的鋪展顯著加速,而且平衡接觸角大幅減小。施加電流明
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