基于飛思卡爾8位MCU的集成電路功能失效分析技術.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文論述了集成電路失效分析的方法,并針對不同類型的電路給出了具體的分析實例。文章內(nèi)容主要分為三部分,第一部分包含第一到第四章,主要講述集成電路失效分析所必備的基本知識。包括:主要失效模式和機理、分析設備和分析流程。第二部分和第三部分是文章的核心內(nèi)容,分別講述了存儲器電路和混合信號電路的分析方法。文章的主要目的是總結以存儲器電路為代表的數(shù)字電路的常用分析方法,并在此基礎上探索了數(shù)?;旌想娐返姆治龇椒?,透析兩種不同電路的差別給分析過程上帶來

2、的挑戰(zhàn)。 對于存儲器電路的研究主要是通過筆者所作的幾十個案例,從中將失效模式和失效機理的規(guī)律性聯(lián)系總結出來,提出較為科學的分析流程并以具體實例加以說明,目的在于提高分析這種類型電路的效率。對于混合信號電路,文章以模數(shù)轉換器ADC為例,探索了基于數(shù)字電路分析儀器的分析思路,指出了對電路功能理解和借助微探針技術的電路分析方法,并給出了一個具體案例的分析過程,目的在于提高分析這種類型電路的成功率。 實際工作的效果證明,論文所作

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