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![高功率復(fù)合脈沖磁控濺射等離子體特性及TiN薄膜制備.pdf_第1頁](https://static.zsdocx.com/FlexPaper/FileRoot/2019-3/16/16/538ebae0-0d05-4c4b-a8f9-128a4e46a782/538ebae0-0d05-4c4b-a8f9-128a4e46a7821.gif)
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文檔簡介
1、磁控濺射技術(shù)成膜的粒子能量高,所鍍膜層密度高、針孔少、純度高,廣泛應(yīng)用于金屬和化合物薄膜沉積。但是,傳統(tǒng)的直流磁控濺射技術(shù)沉積速率低,靶功率密度受靶熱負(fù)荷的限制,當(dāng)濺射電流較大時(shí),過多的陽離子對靶進(jìn)行轟擊使濺射靶過熱而燒損。為提高磁控濺射的濺射速率,人們發(fā)展了高功率脈沖磁控濺射技術(shù),但是高功率脈沖磁控濺射瞬時(shí)功率雖然很高,其平均功率并不高,并且存在起輝延遲和打弧的現(xiàn)象。所以,采用高功率復(fù)合脈沖磁控濺射技術(shù),進(jìn)一步提高高功率脈沖磁控濺射的
2、濺射速率和改善其工藝性能顯得尤為重要。
本文自行研制了一臺高功率復(fù)合脈沖磁控濺射電源,用此電源研究了高功率復(fù)合脈沖磁控濺射的等離子體離子密度分布。在奧氏體不銹鋼表面采用高功率復(fù)合脈沖磁控濺射技術(shù)沉積TiN薄膜,通過掃描電子顯微鏡(SEM)、球盤式摩擦試驗(yàn)機(jī),電化學(xué)腐蝕平臺研究了不同脈沖電流對薄膜的表面形貌、截面形貌、摩擦學(xué)性能、耐腐蝕性能的影響。
電源性能測試結(jié)果表明,自行研制的高功率復(fù)合脈沖磁控濺射電源性能穩(wěn)定,可
3、用于磁控濺射過程。電源的過壓和過流保護(hù)電路能夠在5μs內(nèi)使高功率可控晶體管器件關(guān)斷,實(shí)現(xiàn)電源的可靠保護(hù);在脈沖電路中加入電感,可以有效地穩(wěn)定輸出電壓和輸出電流波形,避免頻繁出現(xiàn)真空室打火現(xiàn)象。
等離子體密度檢測結(jié)果表明,高功率復(fù)合脈沖磁控濺射的等離子體密度一般在1011/cm3數(shù)量級,而傳統(tǒng)直流磁控濺射的等離子體密度為1010/cm3數(shù)量級,高功率復(fù)合脈沖磁控濺射大大提高了等離子體的密度。高功率復(fù)合脈沖磁控濺射的等離子體密度隨
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