基于軟光刻的多層光互連垂直耦合結構.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、如今是一個信息爆炸的時代,計算機和通信技術的快速發(fā)展為我們開辟了一個全新的世界。電子系統(tǒng)的信息處理能力與日俱增,但隨著芯片工作癩率的不斷增加和線寬的不斷縮小,人們也越來越清楚地發(fā)現(xiàn)互連技術已成為系統(tǒng)性能進一步發(fā)展的嚴重障礙。與電互連伴隨的各種固有缺陷,如頻率相關損耗、線路之間電磁干擾(EMI)和在高數(shù)據(jù)傳輸率時的串擾,不但限制了可用帶寬,而且已成為限制系統(tǒng)表現(xiàn)的主要瓶頸。 近年來,光學互連作為一種解決電互連存在的帶寬問題的實施方

2、案,引起世界許多研究機構的關注。在主板上的芯片與芯片間的通信系統(tǒng)中,光互連已經(jīng)被證明擁有很大的潛力,具有傳輸速率快、能耗低的優(yōu)點,并且在進行高速數(shù)據(jù)傳輸時的誤碼率極低。 本文以研究層間垂直光耦合為目的,設計了一種新型多層光互連垂直耦合結構,可用于高速計算機內(nèi)部垂直堆迭的多層連通光互連的芯片間光信息通訊;并且,將軟光刻工藝應用于器件的制作,大大降低器件成本,簡化制作過程,增加生產(chǎn)效率。本文的主要內(nèi)容包括以下幾部分: 首先,

3、介紹了當前光互連的基本情況,討論了電互連方式的缺陷以及光互連方式的優(yōu)點。 其次,設計了一種新型的多層垂直耦合光互連線路,其結構簡單,且具有較小的連接損耗(可低至0.05 dB)。對四種不同的典型波導截面(分別為30x30μm<'2>,50x50μm<'2>,100x100μm<'2>,200x200μm<'2>),在光學設計軟件ZEMAX中進行了跨越1-6層的垂直耦合性能分析,發(fā)現(xiàn)當該結構的跨越高度與橫向跨越距離的比值約為0.1

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