1、葉型是理想株型育種的關(guān)鍵因素之一。葉片適度卷曲使葉片維持挺立并降低葉片間的遮陰現(xiàn)象，通過提高作物群體光能利用效率從而提高產(chǎn)量。水分脅迫下葉片卷曲能夠降低蒸騰失水，降低葉片溫度，使植物免受高光強照射。卷葉也是植物耐旱的形態(tài)指標之一。近年來一系列葉片發(fā)育相關(guān)的基因被鑒定克隆。發(fā)掘更多的葉片發(fā)育相關(guān)基因可以為作物理想株型育種以及葉片發(fā)育的基礎(chǔ)研究提供重要的工作基礎(chǔ)。
　　本研究所用的玉米卷葉突變體swl來自B73×Mu活性系雜交產(chǎn)生的突

2、變體庫。拔節(jié)期可明顯觀察到葉片內(nèi)卷的表型。掃描電鏡觀察到突變體swl葉片表面由于卷葉皺縮造成的紋路也是扭曲的。溫室盆栽實驗，觀察到突變體在苗期就有卷葉表型，表現(xiàn)為葉片中上部內(nèi)卷。為探究其卷葉機制，取7葉期葉片進行切片觀察。結(jié)果發(fā)現(xiàn)swl突變體和B73葉片的近-遠軸端細胞組成上沒有區(qū)別，但swl的泡狀細胞大小較B73小，數(shù)目沒有明顯區(qū)別。推測swl的卷葉表型與較小的泡狀細胞有關(guān)。
　　苗期干旱脅迫實驗，發(fā)現(xiàn)swl脅迫后相對含水量、存

3、活率均高于B73，并且這種耐旱性與氣孔數(shù)目無關(guān)。推測，swl通過葉片適度卷曲減少了葉片蒸騰失水，進而提高了植株的耐旱性。
　　遺傳分析表明，該性狀受一對隱性基因控制。為了定位目的基因，以B73和swl為雙親構(gòu)建遺傳分離群體。利用 BSR-seq技術(shù)，對 F2分離群體中的卷葉表型單株和展葉表型單株進行混池取樣，并進行轉(zhuǎn)錄組測序，之后將swl基因初定位在5號染色體165-185M區(qū)間。在此基礎(chǔ)上，在兩個親本間篩選到13對多態(tài)性的SSR

4、標記，用含有78個單株的小的F2分離群體將swl基因定位在了umc1822和 umc1155標記間，位于175-180M區(qū)間，與BSR-seq結(jié)果是吻合的。之后擴大遺傳分離群體進行精細定位，從F2群體中鑒定到2200個卷葉單株，提取DNA并用邊界引物umc1822和 umc1155鑒定交換單株基因型。將鑒定到的150個交換單株，進行Sequenom基因分型，同時基于PCR產(chǎn)物測序開發(fā)新的SNP標記，最終將swl候選區(qū)間縮小至220 kb