1、空間點(diǎn)陣：空間點(diǎn)陣：將晶體中呈周期性排列且?guī)缀?、物理環(huán)境相同的基本組元(原子、離子、分子)抽象為一幾何點(diǎn)(陣點(diǎn))由此構(gòu)成的幾何圖形。倒易點(diǎn)陣倒易點(diǎn)陣：在晶體點(diǎn)陣的基礎(chǔ)上按一定對應(yīng)關(guān)系建立起來的空間幾何圖形，是晶體點(diǎn)陣的在晶體點(diǎn)陣的基礎(chǔ)上按一定對應(yīng)關(guān)系建立起來的空間幾何圖形，是晶體點(diǎn)陣的另一種表達(dá)形式。另一種表達(dá)形式。質(zhì)厚襯度質(zhì)厚襯度是由于樣品不同微區(qū)間存在的原子序數(shù)或厚度的差異而形成的，適用于對復(fù)型膜試樣電子圖象作出解釋。晶體試樣在進(jìn)行

2、電鏡觀察時(shí)，由于各處晶體取向不同和(或)晶體結(jié)構(gòu)不同，滿足布拉格條件的程度不同，使得對應(yīng)試樣下表面處有不同的衍射效果，從而在下表面形成一個(gè)隨位置而異的衍射振幅分布，這樣形成的襯度，稱為衍射襯度衍射襯度。14.畫圖說明衍襯成象原理，并說明什么是明場象，暗場象和中心暗場象。畫圖說明衍襯成象原理，并說明什么是明場象，暗場象和中心暗場象。答：在透射電子顯微鏡下觀察晶體薄膜樣品所獲得的圖像，其襯度特征與該晶體材料同入射電子束交互作用產(chǎn)生的電子衍射

3、現(xiàn)象直接有關(guān)，此種襯度被稱為衍射襯度，簡稱“衍襯”?利用單一光束的成像方式可以簡單地通過在物鏡背焦平面上插入一個(gè)孔徑足夠小的光闌（光闌孔半徑小于r）來實(shí)現(xiàn)。?明場:?光欄孔只讓透射束通過熒光屏上亮的區(qū)域是透射區(qū)?暗場:?光欄孔只讓衍射束通過熒光屏上亮的區(qū)域是產(chǎn)生衍射的晶體區(qū)1、薄膜樣品的制備方法（工藝過程）、薄膜樣品的制備方法（工藝過程）1）、從實(shí)物或大塊試樣上切割厚度為0。3~0。5mm厚的薄片。電火花縣切割法是目前用得最廣泛的方法，

4、它是用一根往返運(yùn)動(dòng)的金屬絲做切割工具，只能用于導(dǎo)電樣品。2）、樣品薄片的預(yù)先減薄。預(yù)先減薄的方法有兩種即機(jī)械法和化學(xué)法。機(jī)械減薄法是通過手工研磨來完成的，把切割好的薄片一面用粘結(jié)劑粘在樣品座表面，然后在水砂紙磨盤上進(jìn)行研磨減??；把切割好的金屬薄片放入配制好的化學(xué)試劑中，使它表面受腐蝕而繼續(xù)減薄。3）、最終減。雙噴嘴電解拋光法：將預(yù)先減薄的樣品剪成直徑為3mm的圓片，裝入樣品夾持器中，進(jìn)行減薄時(shí)，針對樣品兩個(gè)表面的中心部位各有一個(gè)電解液噴

5、嘴。序數(shù)有關(guān)；晶體結(jié)構(gòu)分析——基于通道花樣襯度。掃描電鏡試樣要求掃描電鏡試樣要求：1.樣品要求干燥無污染去磁斷口可直接觀察平面試樣應(yīng)浸蝕.樣品尺寸一般為1030mm電子探針：原理莫塞萊定率，測定X射線波長、能量確定元素，測定強(qiáng)度確定含量應(yīng)用：進(jìn)行微區(qū)成分分析1、波譜儀和能譜儀各有什么優(yōu)缺點(diǎn)、波譜儀和能譜儀各有什么優(yōu)缺點(diǎn)優(yōu)點(diǎn):1）能譜儀探測X射線的效率高。2）在同一時(shí)間對分析點(diǎn)內(nèi)所有元素X射線光子的能量進(jìn)行測定和計(jì)數(shù)，在幾分鐘內(nèi)可得到定性

6、分析結(jié)果，而波譜儀只能逐個(gè)測量每種元素特征波長。3）結(jié)構(gòu)簡單，穩(wěn)定性和重現(xiàn)性都很好4）不必聚焦，對樣品表面無特殊要求，適于粗糙表面分析。缺點(diǎn)：1）分辨率低。2）能譜儀只能分析原子序數(shù)大于11的元素；而波譜儀可測定原子序數(shù)從4到92間的所有元素。3）能譜儀的Si(Li)探頭必須保持在低溫態(tài)，因此必須時(shí)時(shí)用液氮冷卻。分析鋼中碳化物成分可用能譜儀；分析基體中碳含量可用波譜儀。2、舉例說明電子探針的三種工作方式（點(diǎn)、線、面）在顯微成分分析中的應(yīng)

7、用。舉例說明電子探針的三種工作方式（點(diǎn)、線、面）在顯微成分分析中的應(yīng)用。答：(1)、定點(diǎn)分析：將電子束固定在要分析的微區(qū)上用波譜儀分析時(shí)，改變分光晶體和探測器的位置，即可得到分析點(diǎn)的X射線譜線；用能譜儀分析時(shí)，幾分鐘內(nèi)即可直接從熒光屏（或計(jì)算機(jī)）上得到微區(qū)內(nèi)全部元素的譜線。(2)、線分析：將譜儀（波、能）固定在所要測量的某一元素特征X射線信號（波長或能量）的位置把電子束沿著指定的方向作直線軌跡掃描，便可得到這一元素沿直線的濃度分布情況。

8、改變位置可得到另一元素的濃度分布情況。(3)、面分析：電子束在樣品表面作光柵掃描，將譜儀（波、能）固定在所要測量的某一元素特征X射線信號（波長或能量）的位置，此時(shí)，在熒光屏上得到該元素的面分布圖像。改變位置可得到另一元素的濃度分布情況。也是用X射線調(diào)制圖像的方法。3、要在觀察斷口形貌的同時(shí)，分析斷口上粒狀?yuàn)A雜物的化學(xué)成分，選用什么儀器？用怎樣、要在觀察斷口形貌的同時(shí)，分析斷口上粒狀?yuàn)A雜物的化學(xué)成分，選用什么儀器？用怎樣的操作方式進(jìn)行具體