1、隨著微電子技術(shù)的發(fā)展和半導(dǎo)體制造工藝的不斷進(jìn)步,集成電路的特征工藝尺寸得以大幅度的縮減,其對故障的敏感性也相應(yīng)隨之提高。SRAM型FPGA具有開發(fā)成本低,系統(tǒng)功耗小等優(yōu)點(diǎn),目前被廣泛應(yīng)用于航空航天系統(tǒng)當(dāng)中,而太空的輻射環(huán)境中存在各種各樣的高能粒子,極易使SRAM型FPGA產(chǎn)生單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)效應(yīng),導(dǎo)致系統(tǒng)運(yùn)行異常。因此FPGA的容錯方法研究具有重要意義。
　　為了提高FPGA運(yùn)行的可靠性,本文針對SRAM型FPGA的SEU故障

2、進(jìn)行了容錯方法的研究。首先,設(shè)計(jì)并搭建了以Virtex-5FPGA為核心器件的演示驗(yàn)證平臺,用于驗(yàn)證容錯方法的可行性并對容錯效果進(jìn)行分析。其次,研究了配置信息的格式和啟動回讀命令的組成原理以及配置數(shù)據(jù)幀的尋址方式,采用配置數(shù)據(jù)回讀與比較的方法實(shí)現(xiàn)故障檢測。最后,基于FPGA動態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的思想,設(shè)計(jì)了動態(tài)可重構(gòu)系統(tǒng),采用動態(tài)全部重構(gòu)和動態(tài)部分重構(gòu)兩種方法來實(shí)現(xiàn)FPGA配置存儲器中SEU故障的修復(fù)。
　　通過在本文設(shè)計(jì)的演示驗(yàn)證系統(tǒng)