1、隨著集成電路和制造工藝的迅速發(fā)展,可以將越來(lái)越復(fù)雜的功能模塊IP(Intellectual Property)核集成到單塊芯片上,但功能模塊的高度集成和測(cè)試資源的稀缺性,使得SoC(system-on-chip)芯片的測(cè)試也變得更為復(fù)雜。由于每個(gè)IP核的規(guī)模大小與其數(shù)據(jù)端口的數(shù)目都不一樣,而測(cè)試總線的數(shù)目卻一定,為了縮短SoC的測(cè)試時(shí)間,需在同一時(shí)間內(nèi)盡可能對(duì)多個(gè)IP核進(jìn)行并行測(cè)試,因此如何將IP核合理分配到不同帶寬的測(cè)試總線上尤為關(guān)鍵

2、。本文以獲得芯片最短的測(cè)試時(shí)間按為切入點(diǎn),就SoC測(cè)試調(diào)度的優(yōu)化問(wèn)題展開(kāi)研究,設(shè)計(jì)了一種基于云量子進(jìn)化算法的SoC測(cè)試優(yōu)化方案。
　　文章首先研究了SoC測(cè)試的相關(guān)理論,并著重分析了已有的基于量子進(jìn)化算法的SoC測(cè)試調(diào)度數(shù)學(xué)模型,量子進(jìn)化算法具有優(yōu)異的魯棒性和并行性,能提高算法的尋優(yōu)能力和最優(yōu)解的搜索速度,但同時(shí)由于量子進(jìn)化算法采用單一方向量子門(mén)進(jìn)行種群的更新,依舊會(huì)使算法易陷于局部最優(yōu)解。為更好的解決算法“早熟”問(wèn)題,通過(guò)對(duì)新興

3、起的云模型理論進(jìn)行研究,根據(jù)云模型中云滴具有良好的隨機(jī)性和穩(wěn)定傾向性,用云理論來(lái)對(duì)量子進(jìn)化算法進(jìn)行改進(jìn),設(shè)計(jì)了云量子進(jìn)化算法,并建立其相應(yīng)的SoC測(cè)試數(shù)學(xué)模型。在考慮功耗約束的條件下,對(duì)傳統(tǒng)的功耗測(cè)試模型進(jìn)行優(yōu)化研究,以便能更好的實(shí)現(xiàn)SoC測(cè)試時(shí)間和測(cè)試功耗的協(xié)同優(yōu)化。最后,以ITC’02 Test Benchmarks電路為實(shí)驗(yàn)對(duì)象進(jìn)行仿真。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明在解決功耗約束下的SoC測(cè)試調(diào)度優(yōu)化問(wèn)題上,云量子進(jìn)化算法與已有算法相比,具有更好