PLS及其擴展方法在過程監(jiān)控中的應(yīng)用研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、生產(chǎn)安全與產(chǎn)品質(zhì)量一直是過程工業(yè)的兩大重要主題。故障診斷技術(shù)自70年代發(fā)展以來，一直是過程監(jiān)控領(lǐng)域的一個重要分支。在故障診斷理論的各種方法中，較有發(fā)展前途的是基于數(shù)據(jù)的多變鼉統(tǒng)計分析方法，這是由過程工業(yè)本身難以建立精確模型、強耦合的多變量關(guān)系等特點決定的。 偏最小二乘(PLS，PartialLeastSquares)分析方法是一種利用統(tǒng)計原理提取過程數(shù)據(jù)的有用信息建立過程模型的降維技術(shù)。本文從偏最小二乘的算法原理出發(fā)，系統(tǒng)深入地

2、探討了利用PLS、判別式PLS結(jié)合多變量統(tǒng)計圖和統(tǒng)計量貢獻圖對多變量生產(chǎn)過程進行故障檢測與診斷的整個思路與應(yīng)用情況。為了提高高噪聲情況下的故障檢出率，本文提出了小波偏最小二乘(WaveletPLs，WPLS)的故障診斷方法，并通過數(shù)值仿真實例驗證了該方法在故障檢測與診斷方面的有效性，最后針對TE過程進行仿真實驗研究。仿真實驗與對比仿真實驗研究表明，與PLS方法相比，判別式PLS對TE過程故障的平均檢出率提高了11％左右，而WPLS方法提

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