1、工業(yè)CT圖像測(cè)量是以工業(yè)CT圖像為研究對(duì)象，通過(guò)對(duì)工業(yè)CT圖像的處理和圖像目標(biāo)幾何尺寸測(cè)量來(lái)獲取物體內(nèi)部幾何尺寸的測(cè)量方法，目前已廣泛應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)和醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域。隨著實(shí)際應(yīng)用對(duì)測(cè)量精度要求的不斷提高，已有的測(cè)量方法很難滿足實(shí)際需要，因此高精度尺寸測(cè)量方法的研究具有重要的應(yīng)用價(jià)值。本文完成的主要研究?jī)?nèi)容如下：
　　第一、改進(jìn)Zernike矩檢測(cè)粗邊緣且邊緣模型理想化問(wèn)題。提高ICT圖像的物體幾何尺寸測(cè)量的精度主要取決于ICT圖像

2、邊緣定位的精確度。傳統(tǒng)的像素級(jí)邊緣檢測(cè)方法精度不高，因此引入了亞像素邊緣檢測(cè)技術(shù)，重點(diǎn)研究基于Zernike矩和CV模型亞像素邊緣檢測(cè)算法，并針對(duì)Zernike矩提取邊緣較粗和未考慮到邊緣過(guò)渡區(qū)的不足，采用邊緣距離非極小值抑制和邊緣強(qiáng)度函數(shù)分別解決邊緣較粗和邊緣過(guò)度理想化問(wèn)題。
　　第二、從理論和實(shí)驗(yàn)兩方面對(duì)比分析改進(jìn)的Zernike矩和CV邊緣檢測(cè)方法的優(yōu)劣。分別從速度，測(cè)量精度，抗噪能力，邊緣連續(xù)性，被測(cè)物體圖像邊緣圖形的拓?fù)?/p>

3、結(jié)構(gòu)對(duì)檢測(cè)的影響以及多類(lèi)目標(biāo)邊緣檢測(cè)適應(yīng)性等方面對(duì)Zernike矩改進(jìn)方法和CV模型方法進(jìn)行理論分析與實(shí)驗(yàn)比較，旨在得到更適合工業(yè)CT圖像特征的邊緣檢測(cè)算法。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明：Zernike矩改進(jìn)算法在測(cè)量時(shí)間，測(cè)量精度和提取多類(lèi)物體邊緣上優(yōu)于CV模型方法，但在抗噪能力和邊緣連續(xù)性方面CV模型方法更優(yōu)，兩種方法測(cè)量精度都可達(dá)0.01像素。在實(shí)際應(yīng)用中，Zernike更能滿足快速、高精度測(cè)量的需求，因此本文重點(diǎn)研究基于Zernike矩的尺寸測(cè)

4、量方法。
　　第三、Zernike矩檢測(cè)邊緣角點(diǎn)定位誤差修正。在檢測(cè)矩形，三角形等形狀物體的角點(diǎn)時(shí)，Zernike矩對(duì)角點(diǎn)定位存在理論誤差，因此本文利用?參數(shù)的差分值和直線擬合對(duì)角點(diǎn)附近亞像素坐標(biāo)做了修正。
　　第四、針對(duì)Zernike矩檢測(cè)曲線形邊緣的不足，通過(guò)分析曲率與檢測(cè)半徑誤差之間的關(guān)系，得到圓形半徑的補(bǔ)償函數(shù)，提高圓形工件的測(cè)量精度。由于Zernike矩方法是基于直線邊緣的，當(dāng)檢測(cè)目標(biāo)為圓時(shí)，算法將每個(gè)模板內(nèi)的圓弧

5、邊緣作為直線處理，存在檢測(cè)誤差，因此本文通過(guò)曲率與測(cè)量誤差的關(guān)系提出了針對(duì)圓形工件工業(yè)CT圖片的誤差補(bǔ)償方法。圓測(cè)量的方法是首先采用Zernike矩方法進(jìn)行亞像素邊緣檢測(cè)，再進(jìn)行邊緣細(xì)化處理，然后通過(guò)最小二乘擬合之后得到圓半徑，最后計(jì)算誤差補(bǔ)償因子，得到修正后的圓半徑。
　　第五、得到Zernike矩方法可測(cè)量最小寬度和最小壁厚。長(zhǎng)度測(cè)量的方法是首先采用Zernike矩進(jìn)行亞像素邊緣檢測(cè)，再人工選取感興趣區(qū)域，并通過(guò)最小二乘法擬合

6、得到兩邊的直線方程，最后通過(guò)平行線間距離確定長(zhǎng)度。本文通過(guò)模擬圖像和實(shí)際ICT圖像確定Zernike矩可測(cè)的最小寬度值。測(cè)量壁厚時(shí)，首先采用Zernike矩的邊緣提取算法來(lái)提取工業(yè)CT圖像的邊緣，再人工選取感興趣區(qū)域，然后對(duì)感興趣區(qū)域內(nèi)的邊緣點(diǎn)采用8方向鏈碼法邊緣跟蹤，并通過(guò)插值方法將邊緣點(diǎn)加密，最后通過(guò)最小距離搜索得到壁厚測(cè)量值。本文通過(guò)CT仿真圖像確定Zernike矩可測(cè)的最小壁厚值。
　　本文對(duì)Zernike矩和CV模型亞像