1、隨著深亞微米集成電路技術的發(fā)展,已經可以將大多數甚至所有的系統(tǒng)功能封裝在單個芯片上。與此同時,越來越高的芯片集成度和印制板組裝密度,使得外部可訪問的引腳數越來越少,集成電路和PCB的測試變得越來越困難。從而導致芯片測試可能比芯片的設計生產付出的成本還要高。邊緣掃描測試技術就是一種將可測性直接設計到硅片里的技術,支持系統(tǒng)級、板級、芯片級等所有層級的測試。邊緣掃描測試技術為集成電路的可測性設計提供了一個測試接口和體系結構,并且已標準化,定為

2、IEEE1149.1標準。隨著信息技術的發(fā)展,人們對測試的要求也越來越高,要求實現(xiàn)儀器資源的共享和對儀器的遠程控制,即實現(xiàn)網絡化測試。而將網絡化測試技術同邊緣掃描測試技術相結合,組建網絡化邊緣掃描測試系統(tǒng),則能提高邊緣掃描測試技術的實用性。本文利用嵌入式技術開發(fā)了以太網邊緣掃描控制器,此控制器實現(xiàn)了以太網接入功能,可以測試任何符合IEEE1149.1標準的器件、電路板和系統(tǒng)。使用C++語言自主設計的軟件接口提供了控制邊緣掃描控制器的動態(tài)

3、庫函數和自動解析邊緣掃描描述語言(Boundary-scanDescriptionLanguage,簡稱BSDL)文件的類。設計了具有四條邊緣掃描鏈路的電路板,作為被測目標。最后,利用邊緣掃描控制器和軟件接口,以及針對被測目標的測試算法軟件,組建了網絡化邊緣掃描測試系統(tǒng),從而實現(xiàn)了對各被測鏈路的器件識別、邊緣掃描鏈路測試、電路板級互連線測試(開路和短路故障測試)以及內測試。本文首先討論了課題的研制背景和意義,以及邊緣掃描技術的發(fā)展現(xiàn)狀和