1、中南大學(xué)碩士學(xué)位論文革蘭氏陰性菌耐藥基因檢測(cè)芯片的構(gòu)建及應(yīng)用姓名：季芳申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：碩士專業(yè)：臨床檢驗(yàn)診斷學(xué)指導(dǎo)教師：伍勇20100501碩士學(xué)位論文 中文摘要測(cè)結(jié)果的陽性探針率( P P R ) ，作為一個(gè)最直接而又簡(jiǎn)單的參數(shù)指標(biāo)，本課題研制的氨基糖苷類耐藥基因a a d A l 芯片陣列能清楚、顯著地區(qū)分樣本中是否含a a d A l 耐藥基因，實(shí)際檢測(cè)結(jié)果與P C R ．測(cè)序結(jié)果完全一致。二、用我們研制的革蘭氏陰性菌耐藥基因檢測(cè)芯

2、片檢測(cè)臨床樣品，芯片檢測(cè)結(jié)果與藥敏結(jié)果完全一致，與耐藥基因P C R 一電泳結(jié)果大致一致，但仍然存在差異。在分別檢測(cè)b l a T E M 、c a t B 8 、a a d A l 、a a c A 4 、d f r A l 7 、d f r A l 耐藥基因時(shí)，與P C I 卜電泳結(jié)果完全吻合，特異性較高；兩種檢測(cè)方法都未檢測(cè)到b l a V I M 耐藥基因；芯片檢測(cè)法分別在其中1 株臨床耐藥株中檢測(cè)到b l a S H V 、b

3、 l a O X A 、b l a P S E 、s u l l耐藥基因、其中2 株臨床耐藥株中檢測(cè)到6 勉脅織彳耐藥基因，但P C R未發(fā)現(xiàn)該基因； b l a S H V , b l a V E B ，b l a C T X 、a a d B 耐藥基因分別在其中1 株臨床耐藥株中經(jīng)P C R ．電泳檢測(cè)出，但芯片檢測(cè)該基因?yàn)殛幮浴Ｕf明b i a S [ I V , b l a V E B 、b l a C T X 、a a d B

4、、b l a D 黝、b l a P S E 、s u l l 、b l a l M P - 4 亞陣列中的部分探針的特異性表現(xiàn)不理想，在該芯片的下一輪優(yōu)化改進(jìn)時(shí)，還需要不斷增加檢測(cè)樣品的特異性探針。結(jié)論：一、構(gòu)建了革蘭氏陰性菌耐藥基因庫(kù)及耐藥基因檢測(cè)探針庫(kù)二、成功的設(shè)計(jì)了革蘭氏陰性菌耐藥基因檢測(cè)芯片，用革蘭氏陰性菌耐藥基因檢測(cè)芯片檢測(cè)臨床樣品，證實(shí)了芯片具有較好的重復(fù)性、敏感性、特異性。關(guān)鍵詞：革蘭氏陰性菌；基因芯片；耐藥基因；檢測(cè)；