1、 本文就檢測晶體光學各向異性參數(shù)，包括雙折射和二向色性參數(shù)的方法作了初步研究，在理論上闡述了檢測系統(tǒng)的整體方案以及各功能環(huán)節(jié)，包括光路設(shè)計、電光調(diào)制、信號采集和處理等三個獨立環(huán)節(jié)部分分別進行了測試。應(yīng)用了DSP技術(shù)的儀器，采用相對新穎的軟件算法，來取代傳統(tǒng)復(fù)雜的純硬件處理模塊，完成了單點靜態(tài)的參數(shù)測量實驗。 本文的主要內(nèi)容如下：詳細介紹了基于電光調(diào)制技術(shù)的光學各向異性參數(shù)檢測原理和方法，在總結(jié)、分析傳統(tǒng)電光特征參數(shù)檢測方法(光彈應(yīng)

2、變法)后，提出了結(jié)合正弦波驅(qū)動電光調(diào)制器，利用鎖相放大檢測技術(shù)，并介紹了合成外差信號解調(diào)方法，對光電傳感器接收的微弱電信號用鎖相技術(shù)進行檢測放大，應(yīng)用數(shù)字化處理技術(shù)，而不是傳統(tǒng)的電子電路處理，此方法在本實驗中可相對簡單地在利用DSP鎖相放大器中的編程功能得到實現(xiàn)，完成信號處理。最后在簡單分析系統(tǒng)誤差的因素，以及影響系統(tǒng)檢測穩(wěn)定性的因素后，提出了動態(tài)實時的檢測方法，對于改進和完善本實驗系統(tǒng)作了展望。關(guān)鍵詞：電光調(diào)制鎖相放大DSP合成外差法