包含左手物質的一維光子晶體的傳輸特性研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、光子晶體被認為是未來的半導體,它可以如人所愿地控制光子的運動。由于其獨特的特性,光子晶體可以制作全新原理或以前所不能制作的高性能器件,在光通信上有重要的用途,如用光子晶體器件來替代傳統(tǒng)的電子器件,通信的速度將會快得無法想象。左手物質是最近幾年才提出的一種全新的人工合成材料,并且由于其獨特的性質和廣闊的應用前景而倍受關注。結合這兩種材料,本文研究了含左手物質的一維光子晶體的傳輸特性,與常規(guī)一維光子晶體相比,這種結構具有許多新的特性。本文主

2、要工作如下: 利用傳輸矩陣法分析了含左手物質的一維二元光子晶體的傳輸特性。我們發(fā)現(xiàn),零平均折射率帶隙不隨結構的層數(shù)的變化而變化,也不隨結構尺寸的改變而改變。引入一個缺陷后,缺陷模的位置和數(shù)目與缺陷的引入方式和缺陷本身的物質特性有關;缺陷層引入的位置的變化也會引起缺陷模的變化,當缺陷層位于結構中間時,缺陷模最強。引入兩個缺陷之后,當缺陷相同時,缺陷間的相互作用與它們的間隔成反比,當缺陷間隔比較大時,相互作用比較小,其缺陷模是簡并的

3、;隨著間隔的減小,相互作用變大,簡并的缺陷模將發(fā)生分裂,間隔越小分裂越明顯,而且這種現(xiàn)象與缺陷模所處帶隙以及結構本身的構成無關。若兩個缺陷不同,其缺陷模將不存在分裂現(xiàn)象。 此外,分析了含左手物質的一維三元光子晶體的傳輸特性。首先從基本的邊界條件和著名的Bloch理論出發(fā),推導并且分析了這種結構的色散方程,預測存在一種不同于傳統(tǒng)Bragg帶隙的新帶隙。然后利用傳輸矩陣法理論分析了這種結構的傳輸特性,證實了新帶隙的存在,同時發(fā)現(xiàn)結構

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